《用数形结合研究韦恩图的子集关系》配套测评

A 减少使用的学具数量 B 缩短实验所需的时间 C 排除其他因素的干扰，使结论更可靠 D 让实验看起来更复杂

A 正确 B 错误

A 正确 B 错误

A 若数列有界，则数列一定收敛。 B 等差数列的公差一定是正数。 C 函数在某点连续，就一定在该点可导。 D 数据要完整记录，异常值应说明取舍理由，不能随意剔除。

A 正确 B 错误

A 只保留最大的一个数据 B 多次测量取平均值，必要时画出图像寻找规律 C 只保留最小的一个数据 D 把所有数据直接相加作为结果

A 探究平面向量中相关量之间的关系。 B 学会使用正多边形纸片、几何画板测算并记录 韦恩图 的 子集关系 C 探究不等式中相关量之间的关系。 D 探究概率与统计中相关量之间的关系。

A 正多边形纸片 B 圆锥截面模型 C 几何画板 D 小球与轨道

A 正确 B 错误

A 因为老师要求多做几遍 B 为了增加实验的难度 C 因为学具不够用 D 为了减小偶然误差，确认结果和结论可以重复

A log_a(MN) = log_a M + log_a N B n(A∪B) = n(A) + n(B) - n(A∩B) C E(X) = Σ xᵢ pᵢ D a² = b² + c² - 2bc·cos A

A 正方体外接球的半径等于其体对角线的一半。 B 命题的否定与原命题的真假相反。 C 正弦定理：a 与 sin A 的比等于 b 与 sin B 的比。 D 等比数列的通项等于首项乘以公比的 (n-1) 次方。

A 改变条件后，抽样问卷 的 概率 随之变化，重复测算的结果基本一致。 B 随着研究条件不同，前 n 项和 出现有规律的变化，不同条件下得到的结果明显不同。 C 随着研究条件不同，子集关系 出现有规律的变化，不同条件下得到的结果明显不同。 D 在导数及其应用中，与最值有关的测算结果始终没有变化。

A 为了节省时间，可以直接从中间步骤开始做 B 测算结果不理想时，可以凭想象修改数据 C 按探究要求选取并检查学具：正多边形纸片、几何画板、圆锥截面模型、剪刀，确认齐全可用。 D 只要做一次实验就足以得出结论

A 相互独立的事件同时发生的概率等于各自概率的乘积。 B 余弦定理：a² = b² + c² - 2bc·cos A。 C 通过探究可以归纳出：若 A 包含于 B 且 B 包含于 A，则 A 与 B 相等。 D 等差数列前 n 项和等于首末两项之和与项数乘积的一半。

A 正确 B 错误

A 探究发现活动 B 测量记录活动 C 推理验证活动 D 动手操作活动

A 不分析原因就删掉偏差较大的数据 B 随意修改不满意的数据 C 只做一次实验就下结论 D 多次测量取平均值，并注意规范读数和操作

A 换一个更简单的结论 B 直接按预期修改数据 C 放弃这个实验 D 检查操作过程，分析原因后重新测算

A 等差数列前 n 项和等于首末两项之和与项数乘积的一半。 B 对于正数 a、b，都有 a + b ≥ 2√(ab)。 C 函数的极大值不一定比极小值大。 D 若 A 包含于 B 且 B 包含于 A，则 A 与 B 相等。